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- Die Rastertunnelpotentiometrie (englisch scanning tunneling potentiometry, STP) ist eine Abwandlung des Rastertunnelmikroskops und wurde 1986 durch P. Muralt und D. W. Pohl entwickelt. Mit Hilfe der STP ist es möglich das lokale elektrochemische Potential einer Oberfläche zeitgleich mit der zugehörigen Morphologie der Oberfläche nanometer-genau zu erfassen. (de)
- Die Rastertunnelpotentiometrie (englisch scanning tunneling potentiometry, STP) ist eine Abwandlung des Rastertunnelmikroskops und wurde 1986 durch P. Muralt und D. W. Pohl entwickelt. Mit Hilfe der STP ist es möglich das lokale elektrochemische Potential einer Oberfläche zeitgleich mit der zugehörigen Morphologie der Oberfläche nanometer-genau zu erfassen. (de)
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- Current transport through single grain boundaries: A scanning tunneling potentiometry study (de)
- Design and performance of a practical variable-temperature scanning tunneling potentiometry System (de)
- Electron Transport at Surfaces and Interfaces (de)
- Scanning tunneling potentiometry (de)
- Tip-related artifacts in scanning tunneling potentiometry (de)
- Current transport through single grain boundaries: A scanning tunneling potentiometry study (de)
- Design and performance of a practical variable-temperature scanning tunneling potentiometry System (de)
- Electron Transport at Surfaces and Interfaces (de)
- Scanning tunneling potentiometry (de)
- Tip-related artifacts in scanning tunneling potentiometry (de)
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- C. A. Bobisch, R. Möller
- J. P. Pelz, R. H. Pohl
- M. Rozler, M. R. Beasley
- P. Muralt, D. W. Pohl
- M. A. Schneider, M. Wenderoth, A. J. Heinrich, M. A. Rosentreter and R. G. Ulbrich
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- 1996 (xsd:integer)
- 2008 (xsd:integer)
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- Phys. Rev. B
- Appl. Phys. Lett.
- CHIMIA
- Rev. Sci. Instrum.
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- 23–30
- 1212
- 1327
- 073904
- 514-516
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- Die Rastertunnelpotentiometrie (englisch scanning tunneling potentiometry, STP) ist eine Abwandlung des Rastertunnelmikroskops und wurde 1986 durch P. Muralt und D. W. Pohl entwickelt. Mit Hilfe der STP ist es möglich das lokale elektrochemische Potential einer Oberfläche zeitgleich mit der zugehörigen Morphologie der Oberfläche nanometer-genau zu erfassen. (de)
- Die Rastertunnelpotentiometrie (englisch scanning tunneling potentiometry, STP) ist eine Abwandlung des Rastertunnelmikroskops und wurde 1986 durch P. Muralt und D. W. Pohl entwickelt. Mit Hilfe der STP ist es möglich das lokale elektrochemische Potential einer Oberfläche zeitgleich mit der zugehörigen Morphologie der Oberfläche nanometer-genau zu erfassen. (de)
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- Rastertunnelpotentiometrie (de)
- Rastertunnelpotentiometrie (de)
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