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- Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala. Das Mikroskop wurde 1985 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt. (de)
- Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala. Das Mikroskop wurde 1985 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt. (de)
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- Advances in atomic force microscopy (de)
- Force-distance curves by atomic force microscopy (de)
- Advances in atomic force microscopy (de)
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- Reviews of Modern Physics
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- Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala. Das Mikroskop wurde 1985 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt. (de)
- Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala. Das Mikroskop wurde 1985 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt. (de)
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- Rasterkraftmikroskop (de)
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